美國泰克數(shù)字萬用表

更新時間：2024-08-21

簡要描述：

DMM4020美國泰克數(shù)字萬用表：
5.5基本VDC準確度：0.015%測試參數(shù)：Vac,Vdc,Iac,Idc,Ω,Cont,二極管,頻率

品牌	TeKtronix/美國泰克

DMM4020美國泰克數(shù)字萬用表、Tektronix臺式萬用表—功能特點：

電壓、電阻、電流和頻率測量

二極管和通斷測試

2 × 4 歐姆4 線測量技術

DC 泄漏電流測量

6 個按鈕，快速進入儀器設置

極限比較模式，指明測試通過/ 失敗

DMM4020美國泰克數(shù)字萬用表、Tektronix臺式萬用表—技術指標：

—保修三年

型號	分辨率位數(shù)	基本VDC準確度	測試參數(shù)
DMM4020	5.5	0.015 %（1年）	V ac, V dc, I ac, I dc, Ω, Cont, 二極管, 頻率
顯示器	真空熒光顯示器，點陣
電壓量程	200 mV - 1000 V，高達1 μV 分辨率
電流量程	200 μA - 10 A，高達1 nA 分辨率
電阻量程	200 Ω - 100 MΩ，高達1 mΩ 分辨率
	CAT I 1000 V，CAT II 600 V
頻率	47 Hz - 440 Hz
功耗	15 VA 峰值（10 W 平均值）
觸發(fā)	外部觸發(fā)延遲：<2 ms；外部觸發(fā)抖動：<1 ms；觸發(fā)輸入：TTL 電平；觸發(fā)輸出：觸發(fā)輸出5 V zui大值
環(huán)境溫度	工作時：0 °C - 55 °C；貯存時：-40 °C - 70 °C；預熱一小時可達到全部準確度指標
數(shù)學功能	Min/max, 相對函數(shù), 保持函數(shù), 比較函數(shù)和dB 函數(shù)
電氣特點	輸入保護：1000 V 全部量程；過載：除通斷和二極管測試外，所有功能zui大量程的10%
遠程接口	RS-232C （包括RS-232 到USB 適配器電纜）
外觀尺寸	高：88mm；寬：217mm；厚：297mm
重量	凈重：2.1 kg；毛重：3.0 kg

DMM4020

產(chǎn)品詳細說明：

只需按一個按鈕，即可輕松進行測量

隨著嵌入式系統(tǒng)中的電路日益完善，您必須測量大量不同的參數(shù)，驗證設計。泰克DMM4020 5.5 位臺式萬用表在一臺簡便易用的儀器中提供了大量的功能?？梢允褂靡慌_多功能儀器代替計數(shù)器、通斷測試儀和傳流DMM，節(jié)約工作臺空間和成本。

測量毫微安培信號：DMM4020數(shù)字萬用表改進了測量低電流的方法。通過使用電流到電壓功放技術，DMM4020可以以1nA的分辨率測量電流，給被測電流帶來的負荷影響達到zui小，其結果反映了設備在實際環(huán)境中的工作情況。

專業(yè)設計，讓您的工作更輕松；操作直觀；多個設置按鈕，完成常用測量；雙顯示器：

通過*的雙顯示器，您可以從一組測試表筆，測量同一信號的兩個不同參數(shù)。

極限比較

DMM4020上的極限比較模式：極限比較模式提供了通過/失敗指標，迅速表明是否通過測試，幫助消除錯誤，特別是接近極限的測試結果。

簡單準確的4線測量：2×4歐姆功能已獲的分離端子插座允許只使用兩條引線、而不是四條引線，執(zhí)行4線測量。泰克提供了測試線附件，可以建立連接。您可以獲得杰出的分辨率和準確度，而且使用一對引線非常方便。

簡便連接PC：可以使用后面板上的RS-232 端口，連接PC。DMM4020標配一條USB到RS-232接口適配器電纜，用來連接PC上的USB端口。

連通工作臺，實現(xiàn)智能調試

使用Signal Express，把DMM4020 數(shù)據(jù)導出到Excel 中

通過的泰克版National Instrument LabVIEW SignalExpressTM軟件，您可以輕松捕獲、保存和分析萬用表的測量結果。每臺DMM4020萬用表都免費裝有限定版 SignalExpress，可以完成基本儀器控制、數(shù)據(jù)記錄和分析工作。選配的專業(yè)版軟件則提供了200多種內置功能，可以進一步實現(xiàn)信號處理、高級分析、掃描、極限測試和用戶自定義步進功能。

SignalExpress支持多種泰克儀器*1，可以連接整個測試臺，然后可以從一個直觀的軟件界面中，訪問每臺儀器標配的多功能工具。您可以自動完成要求多臺儀器完成的復雜測量，在更長的時間內記錄數(shù)據(jù)，對來自多臺儀器的數(shù)據(jù)實現(xiàn)時間相關，簡便地捕獲和分析測量結果，這一切都從PC上完成。只有泰克提供了由多臺智能儀器組成的連通測試臺，簡化和加快了復雜設計的調試工作。